掃描電化學顯微鏡哪裡能測

『壹』 掃描電化學顯微鏡的應用領域

（1）SECM最初被用於電極與電解質間界面的研究。如：探測表面形貌圖，對材料進行微加工，進行電化學動力學研究。而最後一項又包括探測電極的反應活性，異相電子轉移動力學，半導體的氧化還原過程，聚合物修飾電極形成過程的研究等。
（2）SECM用於電化學腐蝕現象的研究。
（3）SECM用於絕緣體的吸附/脫附現象和溶解過程的研究。
（4）隨著SECM研究的深入，它所研究的界面和過程的種類也大大增加，如 液/液界面，液/氣界面，液/固界面以及重要的生物過程。

『貳』 掃描電化學顯微鏡的介紹

掃描電化學顯微鏡(Scanning Electrochemical Micros, SECM)是顯微鏡的一種。基於電化學原理工作，可測量微區內物質氧化或還原所給出的電化學電流。利用驅動非常小的電極（探針）在靠近樣品處進行掃描，樣品可以是導體、絕緣體或半導體，從而獲得對應的微區電化學和相關信息，目前可達到的最高解析度約為幾十納米。