化學質譜儀怎麼看

Ⅰ 質譜儀的原理是什麼 化學題中質譜儀的圖像怎麼看

MR四峰,該機物甲苯. 鹵代物三種. 質譜圖,已知純凈物圖,右邊數字該物質量；其則該物資轟擊碎片,所量比.純凈物,確定. 配合核磁共振譜吸收峰每峰H數,能確定該物質式

Ⅱ 高中化學質譜圖怎麼看分子量

解答:
高中質譜圖相對來說比較簡單，如果已知是純凈物的圖，一般圖譜最右邊最大的數字就是該物質的分子量，其他則為該分子被轟擊後的碎片，所以分子量比他小。因為質譜是用高能電子流等轟擊樣品分子，使該分子失去電子變成帶正電荷的分子離子和碎片離子。而在這些離子中，有隻失了一個電子的離子，這種離子雖失去了一個電子，但質量是與原分子一樣的，所以在質譜圖里數字最大的就是分子量。
質譜法的原理是測量帶點微粒在電場中的偏移量來計算分子量的，有機物分子不帶電，
想讓有機物分子帶電，這里用的是將份子打碎成幾部分的方法
。最大的碎片就是只失去一個電子的碎片，
該質量也就是分子量了
。至於為什麼在最右側，是因為橫軸是從左到右依次分子量遞增的，所以最右側就是最大碎片的分子量。

Ⅲ 質譜法怎麼看圖

看圖方法：

主要看特徵峰，最右面的峰是全分子的離子峰，是化學物質的分子失去1個質子產生的峰，最右面的分子量最大，分子片段不可能比全分子的分子量大，所以最右側峰應該是大約相對分子量的數值。氧上面加上正號，不一定是失去電子，多數情況下是氧又和一個質子（H+）結合了，從而多了一個正電荷。

以下是質譜法運用的相關介紹：

1、質譜法特別是它與色譜儀及計算機聯用的方法，已廣泛應用在有機化學、生化、葯物代謝、臨床、毒物學、農葯測定、環境保護、石油化學、地球化學、食品化學、植物化學、宇宙化學和國防化學等領域。

2、用質譜計作多離子檢測，可用於定性分析，例如，在葯理生物學研究中能以葯物及其代謝產物在氣相色譜圖上的保留時間和相應質量碎片圖為基礎，確定葯物和代謝產物的存在；也可用於定量分析，用被檢化合物的穩定性同位素異構物作為內標，以取得更准確的結果。

3、在無機化學和核化學方面，許多揮發性低的物質可採用高頻火花源由質譜法測定。該電離方式需要一根純樣品電極。如果待測樣品呈粉末狀，可和鎳粉混合壓成電極。此法對合金、礦物、原子能和半導體等工藝中高純物質的分析尤其有價值，有可能檢測出含量為億分之一的雜質。

以上資料參考網路——質譜法

Ⅳ 高中有機化學的質譜圖到底怎麼看的 老師說最高的就是相對分子質量 為什麼做題的時候不對

在高中有機中來看，老師說的沒錯，但是你要考慮一下同位素的存在。並不是m/Z最大的就是相對分子質量，是M/Z最大的一組峰中，豐度最高的才是

Ⅳ 質譜儀怎麼看。。。那些線是啥

看那最右邊的那條線，上面的數值是多，質量就是多少

Ⅵ 謝謝大家 怎麼看高中質譜法的圖示

質譜的解析

質譜的解析大致步驟如下：

1，確認分子離子峰，並由其求得相對分子質量和分子式；計算不飽和度。

2，找出主要的離子峰（一般指相對強度較大的離子峰），並記錄這些離子峰的質荷比（m/z值）和相對強度。

3，對質譜中分子離子峰或其他碎片離子峰丟失的中型碎片的分析也有助於圖譜的解析。

4，用MS-MS找出母離子和子離子，或用亞穩掃描技術找出亞穩離子，把這些離子的質荷比讀到小數點後一位。

4，配合元素分析、UV、IR、NMR和樣品理化性質提出試樣的結構式。最後將所推定的結構式按相應化合物裂解的規律，檢查各碎片離子是否符合。若沒有矛盾，就可確定可能的結構式。

5，已知化合物可用標准圖譜對照來確定結構是否正確，這步工作可由計算機自動完成。對新化合物的結構，最終結論要用合成此化合物並做波譜分析的方法來確證。

(6)化學質譜儀怎麼看擴展閱讀：

質譜分類

電子轟擊質譜EI-MS，場解吸附質譜FD-MS，快原子轟擊質譜FAB-MS，基質輔助激光解吸附飛行時間質譜MALDI-TOFMS，電子噴霧質譜ESI-MS等等。

不過能測大分子量的是基質輔助激光解吸附飛行時間質譜MALDI-TOFMS和電子噴霧質譜ESIMS，其中基質輔助激光解吸附飛行時間質譜MALDI-TOFMS可以測量的分子量達100000。

Ⅶ 誰會看質譜儀的圖譜

質譜儀好多種呢對不同方向的應用有不同方法只能給你看下質譜儀原理，網上轉的又稱質譜計(mass spectrometer)。進行質譜分析的儀器，即根據帶電粒子在電磁場中能夠偏轉的原理，按物質原子、分子或分子碎片的質量差異進行分離和檢測物質組成的一類儀器。質譜儀以離子源、質量分析器和離子檢測器為核心。離子源是使試樣分子在高真空條件下離子化的裝置。電離後的分子因接受了過多的能量會進一步碎裂成較小質量的多種碎片離子和中性粒子。它們在加速電場作用下獲取具有相同能量的平均動能而進入質量分析器。質量分析器是將同時進入其中的不同質量的離子，按質荷比m/z大小分離的裝置。分離後的離子依次進入離子檢測器，採集放大離子信號，經計算機處理，繪製成質譜圖。離子源、質量分析器和離子檢測器都各有多種類型。質譜儀按應用范圍分為同位素質譜儀、無機質譜儀和有機質譜儀；按分辨本領分為高分辨、中分辨和低分辨質譜儀；按工作原理分為靜態儀器和動態儀器。
分離和檢測不同同位素的儀器。儀器的主要裝置放在真空中。將物質氣化、電離成離子束，經電壓加速和聚焦，然後通過磁場電場區，不同質量的離子受到磁場電場的偏轉不同，聚焦在不同的位置，從而獲得不同同位素的質量譜。質譜方法最早於1913年由J.J.湯姆孫確定，以後經 F.W.阿斯頓等人改進完善。現代質譜儀經過不斷改進，仍然利用電磁學原理，使離子束按荷質比分離。質譜儀的性能指標是它的解析度，如果質譜儀恰能分辨質量m和m＋Δm，解析度定義為m／Δm。現代質譜儀的解析度達 105 ～106 量級，可測量原子質量精確到小數點後7位數字。
質譜儀最重要的應用是分離同位素並測定它們的原子質量及相對豐度。測定原子質量的精度超過化學測量方法，大約2／3以上的原子的精確質量是用質譜方法測定的。由於質量和能量的當量關系，由此可得到有關核結構與核結合能的知識。對於可通過礦石中提取的放射性衰變產物元素的分析測量，可確定礦石的地質年代。質譜方法還可用於有機化學分析，特別是微量雜質分析，測量分子的分子量，為確定化合物的分子式和分子結構提供可靠的依據。由於化合物有著像指紋一樣的獨特質譜，質譜儀在工業生產中也得到廣泛應用。
固體火花源質譜：對高純材料進行雜質分析。可應用於半導體材料有色金屬、建材部門;氣體同位素質譜：對穩定同位素C、H、N、O、S及放射性同位素Rb、Sr、U、Pb、K、Ar測定，可應用於地質石油、醫學、環保、農業等部門
有機質譜儀
有機質譜儀基本工作原理：以電子轟擊或其他的方式使被測物質離子化，形成各種質荷比（m/e）的離子，然後利用電磁學原理使離子按不同的質荷比分離並測量各種離子的強度，從而確定被測物質的分子量和結構。
有機質譜儀主要用於有機化合物的結構鑒定，它能提供化合物的分子量、元素組成以及官能團等結構信息。分為四極桿質譜儀、離子阱質譜儀、飛行時間質譜儀和磁質譜儀等。
有機質譜儀的發展很重要的方面是與各種聯用儀（氣相色譜、液相色譜、熱分析等）的使用。它的基本工作原理是：利用一種具有分離技術的儀器，作為質譜儀的"進樣器"，將有機混合物分離成純組分進入質譜儀，充分發揮質譜儀的分析特長，為每個組分提供分子量和分子結構信息。
可廣泛用於有機化學、生物學、地球化學、核工業、材料科學、環境科學、醫學衛生、食品化學、石油化工等領域以及空間技術和公安工作等特種分析方面。
無機質譜儀
無機質譜儀與有機質譜儀工作原理不同的是物質離子化的方式不一樣，無機質譜儀是以電感耦合高頻放電 (ICP)或其他的方式使被測物質離子化。
無機質譜儀主要用於無機元素微量分析和同位素分析等方面。分為火花源質譜儀、離子探針質譜儀、激光探針質譜儀、輝光放電質譜儀、電感耦合等離子體質譜儀。火花源質譜儀不僅可以進行固體樣品的整體分析，而且可以進行表面和逐層分析甚至液體分析；激光探針質譜儀可進行表面和縱深分析；輝光放電質譜儀解析度高，可進行高靈敏度，高精度分析，適用范圍包括元素周期表中絕大多數元素，分析速度快，便於進行固體分析；電感耦合等離子體質譜，譜線簡單易認，靈敏度與測量精度很高。
質譜分析法的特點是測試速度快，結果精確。廣泛用於地質學、礦物學、地球化學、核工業、材料科學、環境科學、醫學衛生、食品化學、石油化工等領域以及空間技術和公安工作等特種分析方面。
同位素質譜儀
同位素質譜分析法的特點是測試速度快，結果精確，樣品用量少（微克量級）。能精確測定元素的同位素比值。廣泛用於核科學，地質年代測定，同位素稀釋質譜分析，同位素示蹤分析。
離子探針
離子探針是用聚焦的一次離子束作為微探針轟擊樣品表面，測射出原子及分子的二次離子，在磁場中按質荷比（m/e）分開，可獲得材料微區質譜圖譜及離子圖像，再通過分析計算求得元素的定性和定量信息。測試前對不同種類的樣品須作不同制備，離子探針兼有電子探針、火花型質譜儀的特點。可以探測電子探針顯微分析方法檢測極限以下的微量元素，研究其局部分布和偏析。可以作為同位素分析。可以分析極薄表面層和表面吸附物，表面分析時可以進行縱向的濃度分析。成像離子探針適用於許多不同類型的樣品分析，包括金屬樣品、半導體器件、非導體樣品，如高聚物和玻璃產品等。廣泛應用於金屬、半導體、催化劑、表面、薄膜等領域中以及環保科學、空間科學和生物化學等研究部門。

Ⅷ 高中化學如何看懂質譜圖

先找到分子離子峰（一般為質荷比最大的質譜峰），再結合其同位素峰及碎片峰證和推斷的經質量分開後，到被並記錄下來，經處理後以質譜圖的形式表示出來圖中，表示離子的質荷比（m/z）值，從左到右質荷比的值增大，對於帶有單電荷的離子，橫坐標表示的數值即為離子的；表示離子流的，通常用來表示，即把最強的離子流強度定為100%，其它離子流的強度以其表示，有時也以所有被記錄離子的總離子流強度作為100%，各種離子以其所佔的百分數來表示。 化合物結構。

Ⅸ 怎樣看懂質譜圖請簡要概括

最先看分子離子峰。怎麼判斷分子離子峰？一般是最大的明顯可見碎片。如果有已經結構就好辦，如果沒有，一般判斷出分子離子峰之後，要進行確認。確認的辦法是看最大的碎片和第二大的碎片的差值是否合理。多數減15，也有減18或43，這樣看具體情況。如果有這樣的碎片就認為是分子離子峰的可能性很大。然後再看基峰。基峰是質譜圖二維結構中的縱向看法。從基峰來判斷物質最為穩定的碎片是不是和你想像的相同，以此為基礎增減碎片來判斷其它的可能結構。
具體解析可以參考分析化學手冊 第九分冊的質譜一書。

Ⅹ 質譜圖怎麼看

一、質譜圖的概念Mass spectrum
質譜圖
不同質荷比的離子經質量分析器分開後，到檢測器被檢測並記錄下來，經計算機處理後以質譜圖的形式表示出來。 在質譜圖中，橫坐標表示離子的質荷比（m/z）值，從左到右質荷比的值增大，對於帶有單電荷的離子，橫坐標表示的數值即為離子的質量；縱坐標表示離子流的強度，通常用相對強度來表示，即把最強的離子流強度定為100%，其它離子流的強度以其百分數表示，有時也以所有被記錄離子的總離子流強度作為100%，各種離子以其所佔的百分數來表示。
編輯本段二、質譜中主要離子峰
從有機化合物的質譜圖中可以看到許多離子峰.這些峰的m/z和相對強度取決於分子結構,並與儀器類型,實驗條件有關.質譜中主要的離子峰有分子離子峰,碎片離子峰,同位素離子峰,重拍離子峰及亞穩離子峰等.正是這些離子峰給出了豐富的質朴信息,為質譜分析法提供依據.下面對這些離子峰進行簡要介紹.
(一)分子離子峰
分子受電子束轟擊後失去一個電子而生成的離子M.+稱為分子離子,例如:M+e¨→M.+ + 2e¨ 在質譜圖中由M.+ 所形成的峰稱為分子離子峰.因此,分子離子峰的m/z值就是中性分子的相對分子質量Mr,而Mr是有機化合物的重要質譜數據. 分子離子峰的強弱,隨化合物結構不同而異,其強弱一般為:芳環>醚>酯>胺>酸>醇>高分子烴.分子離子峰的強弱可以為推測化合物的類型提供參考信息.
(二)碎片離子峰
當電子轟擊的能量超過分子離子電離所需要的能量時(約為50~70eV),可能使分子離子的化學鍵進一步斷裂,產生質量數較低的碎片,稱為碎片離子.在質譜圖上出現相應的峰,稱為碎片離子峰.碎片離子峰在質譜圖上位於分子離子峰的左側.(由於網路的編輯器功能不夠完善,用於作為例子的化學式不是很方便打出來,望後來的讀者完善).
(三)同位素離子峰
在組成有機化合物的常見十幾種元素中,有幾種元素具有天然同位素,如C,H,N,O,S,Cl,Br等.所以,在質譜圖中除了最輕同位素組成的分子離子所形成的M.+峰外,還會出現一個或多個重同位素組成的分子離子峰.如(M+1).+,(M+2).+,(M+3).+等,這種離子峰叫做同位素離子峰.對應的m/z為M+1,M+2,M+3表示.人們通常把某元素的同位素占該元素的原子質量分數稱為同位素豐度.同位素峰的強度與同位素的豐度是相對應的.下表列出了有機化合物中元素的同位素豐度及峰類型.由下表可見,S,Cl,Br等元素的同位素豐度高,因此,含S,C,Br等元素的同位素其M+2峰強度較大.一般根據M和M+2兩個峰的強度來判斷化合物中是否含有這些元素.