物理干扰有哪些

❶ 原子吸收光谱分析中有哪些干扰

原子吸收光谱分析中的干扰大体可分为两类:
第一类是非光谱干扰,包括电离干扰、物理干扰和化学干扰等,这些干扰作用与火焰光度学的物理、化学过程密切相关;
第二类是光谱干扰,包括光谱干扰和背景吸收,它引起待测元素的吸收强度发生变化,导致测量误差.
原子吸收光谱分析中最普遍的干扰是化学干扰,化学干扰是原子吸收光谱分析干扰中主要的干扰来源.

❷ 原子吸收中有哪些干扰因素消除干扰因素的方法有哪些

原子吸收光谱是分析化学领域中一种极其重要的分析方法,已广泛用于冶金工业.吸收原子吸收光谱法是利用被测元素的基态原子特征辐射线的吸收程度进行定量分析的方法.既可进行某些常量组分测定,又能进行ppm、ppb级微量测定,可进行钢铁中低含量的cr、ni、cu、mn、mo、ca、mg、als、cd、pb、ad；原材料、铁合金中的k2o、na2o、mgo、pb、zn、cu、ba、ca等元素分析及一些纯金属（如al、cu）中残余元素的检测.干扰及其消除方法有：
物理干扰
物理干扰是指试样在转移、蒸发过程中任何物理因素变化而引起的干扰效应.属于这类干扰的因素有：试液的粘度、溶剂的蒸汽压、雾化气体的压力等.物理干扰是非选择性干扰,对试样各元素的影响基本是相似的.
配制与被测试样相似的标准样品,是消除物理干扰的常用的方法.在不知道试样组成或无法匹配试样时,可采用标准加入法或稀释法来减小和消除物理干扰.
化学干扰
化学干扰是指待测元素与其它组分之间的化学作用所引起的干扰效应,它主要影响待测元素的原子化效率,是原子吸收分光光度法中的主要干扰来源.它是由于液相或气相中被测元素的原子与干扰物质组成之间形成热力学更稳定的化合物,从而影响被测元素化合物的解离及其原子化.
消除化学干扰的方法有：化学分离；使用高温火焰；加入释放剂和保护剂；使用基体改进剂等.
电离干扰
在高温下原子电离,使基态原子的浓度减少,引起原子吸收信号降低,此种干扰称为电离干扰.电离效应随温度升高、电离平衡常数增大而增大,随被测元素浓度增高而减小.加入更易电离的碱金属元素,可以有效地消除电离干扰.
光谱干扰
光谱干扰包括谱线重叠、光谱通带内存在非吸收线、原子化池内的直流发射、分子吸收、光散射等.当采用锐线光源和交流调制技术时,前3种因素一般可以不予考虑,主要考虑分子吸收和光散射地影响,它们是形成光谱背景的主要因素.
分子吸收干扰
分子吸收干扰是指在原子化过程中生成的气体分子、氧化物及盐类分子对辐射吸收而引起的干扰.光散射是指在原子化过程中产生的固体微粒对光产生散射,使被散射的光偏离光路而不为检测器所检测,导致吸光度值偏高.

❸ 电路中普遍存在的干扰现象有哪些

1：电磁干扰，就是由于电线弯曲盘绕，电流在里面流动形成磁，磁再生电。于是对电路的性能造成影响。高频电路里面尤其严重。这种干扰可分为传导干扰和辐射干扰。
2：杂散参数：本来的电线的电感是很小的，但是由于线路长短的问题，过于缠绕的电线就会产生电感，杂散的电容参数也是同理。
3：温升影响：由于电路工作时会给很多器件造成温升，使得工作环境温度升高，其中一些器件的参数，比如电阻值等，就会发生变化。
比较普遍的就是以上这些。可能特殊的电路会有特殊情况。

❹ 在进行原子吸收测定时常见的干扰因素有哪些

物理干扰
物理干扰是指试样在转移、蒸发过程中任何物理因素变化而引起的干扰效应。属于这类干扰的因素有：试液的粘度、溶剂的蒸汽压、雾化气体的压力等。物理干扰是非选择性干扰，对试样各元素的影响基本是相似的。
配制与被测试样相似的标准样...

❺ 如何消除、抑制物理干扰、化学干扰、背景吸收

一、干扰效应

干扰效应按其性质和产生的原因，可以分为4类：化学干扰、电离干扰、物理干扰和光谱干扰。

1、化学干扰

化学干扰与被测元素本身的性质和在火焰中引起的化学反应有关。产生化学干扰的主要原因是由于被测元素不能全部由它的化合物中解离出来，从而使参与锐线吸收的基态原子数目减少，而影响测定结果的准确性。由于产生化学干扰的因素多种多样，消除干扰的方法要是具体情况而不同，常用以下方法：

1）改变火焰温度

对于生成难熔、难解离化合物的干扰，可以通过改变火焰的种类、提高火焰的温度来消除。如在空气-乙炔火焰的PO43-对该的测定有干扰，当改用氧化二氮-乙炔火焰后，提高火焰温度，可消除此类干扰。

2）加入释放剂：

向试样中加入一种试剂，使干扰元素与之生成更稳定、更难解离的化合物，而将待测元素从其与干扰元素生成的化合物中释放出来。如测Mg2+时铝盐会与镁生成MgAl2O4难熔晶体，使镁难于原子化而干扰测定。若在试液中加入释放剂SrCl2,可与铝结合成稳定的SrAl2O4而将镁释放出来。磷酸根会与钙生成难解离化合物而干扰钙的测定，若加入释放剂LaCl3,则由于生成更难离解的LaPO4而将该释放出来。

3）加入保护络合剂：

保护络合剂可与待测元素生成稳定的络合物，而是待测元素不再与干扰元素生成难解离的化合物而消除干扰。如PO43-干扰钙的测定，当加入络合剂EDTA后，钙与EDTA生成稳定的鳌合物，而消除PO43-的干扰。

4）加入缓冲剂

加入缓冲剂即向试样中加入过量的干扰成分，使干扰趋于稳定状态，此含干扰成分的试剂称为缓冲剂。如用氧化二氮-乙炔测定钛时，铝有干扰，难以获准结果，向试样中加入铝盐使铝的浓度达到200ug/ml时，铝对钛的干扰就不再随溶液中铝含量的变化而改变，从而可以准确测定钛。但这种方法不很理想，它会大大降低测定灵敏度。

2、电离干扰

是指待测元素在火焰中吸收能量后，除进行原子化外，还是部分原子电离，从而降低了火焰中基态原子的浓度,使待测元素的吸光度降低，造成结果偏低。火焰温度愈高，电离干扰越显着。当分析电离电位较低的元素（如Be、Sr、Ba、Al）,为抑制电离干扰，出采用降低火焰温度的方法外，还可以向试液中加入消电离剂，如1%CsCl(或KCl、RbCl)溶液，因CsCl在火焰中极易电离产生高的电子云密度，此高电子云密度可以只待测元素的电离而除去干扰。

3、物理干扰

物理干扰是指试样在转移、蒸发和原子化的过程中，由于物理的特性（如粘度、表面张力、密度等）的变化引起吸收强度下降的效应。采用可调式雾化器通过改变进样量的大小、采用标准加入法（配置与被测样品相似组成的标准样品）或稀释来消除物理干扰。

4、光谱干扰

光谱干扰包括谱线重叠、光谱通带内存在吸收线、原子化池内的直流发射、分子吸收、光散射等。当采用锐性光源和交流调制技术时，前三种因素一般可以不予考虑，主要考虑分子吸收和光散射，它们是形成光谱背景干扰的主要因素：

l 分子吸收是指在原子化过程中生成的分子对辐射的吸收，分子吸收是带状光谱，会在一定波长范围内形成干扰。

l光散射是在原子化过程中产生的微小固体颗粒使光产生散射，造成透光度减小，吸收度增加

二、背景干扰的校正技术：

1.背景干扰的产生

背景干扰是一种光谱干扰，形成光谱背景的主要因素是分子吸收与光散射。表现为增加表观吸光度，使测定结果偏高。

2.背景校正的方法

1）连续光源背景校正法（氘灯校正）

连续光源采用氘灯在紫外区；碘钨灯在可见光区背景校正。切光器可使锐线光源与氘灯连续光源交替进入原子化器。锐线光源测定的吸光度值为原子吸收与背景吸收的总吸光度。连续光源所测吸光度为背景吸收，因为在使用连续光源时，被测元素的共振线吸收相对于总人射光强度是可以忽略不计的。因此连续光源的吸光度值即为背景吸收。将锐线光源吸光度值减去连续光源吸光度值，即为校正背景后的被测元素的吸光度值。

氘灯校正法灵敏度高，应用广泛。非常适合火焰校正，在火焰和石墨炉共用的机型中，采用氘灯校正法是最折衷的方法，虽然在石墨炉中氘灯校正法不及塞曼效应背景校正理想，但在火焰分析中由于火焰产生的粒子造成光散塞曼效应射而使塞曼效应无法正常地进行磁场分裂，氘灯校正法在火焰分析中比塞曼效应校正法优越的多。

氘灯校正法的缺点采用两种不同的光源，需较高技术调整光路平衡。

2）塞曼效应背景校正

当仅使用石墨炉进行原子化时，最理想是利用塞曼效应进行背景校正。塞曼效应是指光通过加在石墨炉上的强磁场时，引起光谱线发生分裂的现象。塞曼效应分为正常塞曼和反常塞曼效应：

a、正常塞曼效应背景校正

光的方向与磁场方向垂直，在强磁场作用下，原子吸收线分裂为π和δ+组分：π平行于磁场方向，波长不变；δ+组分垂直于磁场方向，波长分别向长波与短波移动。这两个分量之间的主要差别是π分量只能吸收与磁场平行的偏振光，而δ+分量只能吸收与磁场垂直的偏振光，而且很弱。引起的分子完全等同地吸收平行与垂直的偏振光。即δ+组分为背景吸收，π组分为原子吸收。

在原子化器上加一电磁铁，电磁铁仅原子化阶段被激磁，偏振器是固定不变的，它只让垂直于磁场方向的偏振光通过原子化器，去掉平行于磁场方向的偏振光。在零磁场时，吸收线不发生分裂，测得的是被测元素的原子吸收与背景吸收的总吸光度值。激磁时测得的仅为背景吸收的吸光度值，两次测定吸光度之差，就是校正了背景吸收后被测元素的净吸光度值。

正常塞曼的缺点是在光路中加有偏振器，去掉平行于磁场方向的偏振光，使光的能量损失了一半，大大降低了检测的灵敏度。

b、反常塞曼效应背景校正

光的方向与磁场方向水平，当光通过在原子化器上加一电磁铁，在强磁场作用下，抑制了π组分（原子吸收）的产生，只产生δ+组分（背景吸收）。在不通电无磁场存在下，空心阴极灯的共振线通过石墨炉，测得待测元素和背景吸收的总和。通电后在强磁场存在下，产生反常塞曼效应，此时只有共振线分裂后产生的δ+组分通过石墨炉，其不被基态原子吸收，仅测得背景吸收。通过两次吸光度之差，即可进行背景校正。反常塞曼由于光路中没有偏振器，光的能量较正常塞曼多50%，检测灵敏度较正常塞曼高

塞曼效应使用同一光源进行测量，是非常理想的校正方法，它要求光能集中同方向地通过电磁场中线进行分裂，但在火焰分析中，由于火焰中的固体颗粒对锐性光源产生多种散射、光偏离，燃烧时粒子互相碰撞等因素产生许多不可预见因素，造成光谱线分裂紊乱，在火焰中的应用极不理想。并且，塞曼效应的检测灵敏度低于氘灯校正法。

3）自吸收校正法（SR法）

当空心阴极灯在高电流工作时，其阴极发射的锐线光会被灯内产生的原子云基态原子吸收，是发射的锐线光谱变宽，吸收度下降，灵敏度液下降。这种自吸现象无法避免。因此，可首先在空心阴极灯低电流下工作，使锐线光通过原子化器，测得待测元素和背景吸收的总和。然后使它在高电流下工作，通过原子化器，测得相当于背景的吸收。将两次测的吸光度相减，就可扣除背景的影响。优点是使用同一光源，不足是加速空心阴极灯的老化，其寿命只有正常的1/3，现这种方式已基本不被采用。

4) 邻近非共振线校正背景：

用分析线测量原子吸收和背景吸收的总吸光度，因非共振线不产生原子吸收，用它来测量背景吸收的吸光度，两次测量值相减即得到背景之后的原子吸收的吸光度。

背景吸收随波长而改变，因此，非共振线校正背景法的准确度较差。这种方法只适用于分析线附近背景分布比较均匀的场合。

❻ 原子吸收光谱分析的干扰有哪些，如何消除

原子吸收光谱是分析化学领域中一种极其重要的分析方法,已广泛用于冶金工业.吸收原子吸收光谱法是利用被测元素的基态原子特征辐射线的吸收程度进行定量分析的方法.既可进行某些常量组分测定,又能进行ppm、ppb级微量测定,可进行钢铁中低含量的Cr、Ni、Cu、Mn、Mo、Ca、Mg、Als、Cd、Pb、Ad；原材料、铁合金中的K2O、Na2O、MgO、Pb、Zn、Cu、Ba、Ca等元素分析及一些纯金属（如Al、Cu）中残余元素的检测.干扰及其消除方法有：
物理干扰
物理干扰是指试样在转移、蒸发过程中任何物理因素变化而引起的干扰效应.属于这类干扰的因素有：试液的粘度、溶剂的蒸汽压、雾化气体的压力等.物理干扰是非选择性干扰,对试样各元素的影响基本是相似的.
配制与被测试样相似的标准样品,是消除物理干扰的常用的方法.在不知道试样组成或无法匹配试样时,可采用标准加入法或稀释法来减小和消除物理干扰.
化学干扰
化学干扰是指待测元素与其它组分之间的化学作用所引起的干扰效应,它主要影响待测元素的原子化效率,是原子吸收分光光度法中的主要干扰来源.它是由于液相或气相中被测元素的原子与干扰物质组成之间形成热力学更稳定的化合物,从而影响被测元素化合物的解离及其原子化.
消除化学干扰的方法有：化学分离；使用高温火焰；加入释放剂和保护剂；使用基体改进剂等.
电离干扰
在高温下原子电离,使基态原子的浓度减少,引起原子吸收信号降低,此种干扰称为电离干扰.电离效应随温度升高、电离平衡常数增大而增大,随被测元素浓度增高而减小.加入更易电离的碱金属元素,可以有效地消除电离干扰.
光谱干扰
光谱干扰包括谱线重叠、光谱通带内存在非吸收线、原子化池内的直流发射、分子吸收、光散射等.当采用锐线光源和交流调制技术时,前3种因素一般可以不予考虑,主要考虑分子吸收和光散射地影响,它们是形成光谱背景的主要因素.
分子吸收干扰
分子吸收干扰是指在原子化过程中生成的气体分子、氧化物及盐类分子对辐射吸收而引起的干扰.光散射是指在原子化过程中产生的固体微粒对光产生散射,使被散射的光偏离光路而不为检测器所检测,导致吸光度值偏高.

❼ 在原子吸收分析中干扰效应大致有哪些

（1）物理干扰物理干扰是指试样在转移、蒸发过程中任何物理因素变化而引起的干扰效应。属于这类干扰的因素有：试液的粘度、溶剂的蒸汽压、雾化气体的压力等。物理干扰是非选择性干扰，对试样各元素的影响基本是相似的。 配制与被测试样相似的标准样品，是消除物理干扰的常用的方法。在不知道试样组成或无法匹配试样时，可采用标准加入法或稀释法来减小和消除物理干扰。

（2）化学干扰化学干扰是指待测元素与其它组分之间的化学作用所引起的干扰效应，它主要影响待测元素的原子化效率，是原子吸收分光光度法中的主要干扰来源。它是由于液相或气相中被测元素的原子与干扰物质组成之间形成热力学更稳定的化合物，从而影响被测元素化合物的解离及其原子化。 消除化学干扰的方法有：化学分离；使用高温火焰；加入释放剂和保护剂；使用基体改进剂等。

（3）电离干扰在高温下原子电离，使基态原子的浓度减少，引起原子吸收信号降低，此种干扰称为电离干扰。电离效应随温度升高、电离平衡常数增大而增大，随被测元素浓度增高而减小。加入更易电离的碱金属元素，可以有效地消除电离干扰。

（4）光谱干扰光谱干扰包括谱线重叠、光谱通带内存在非吸收线、原子化池内的直流发射、分子吸收、光散射等。当采用锐线光源和交流调制技术时，前3种因素一般可以不予考虑，主要考虑分子吸收和光散射地影响，它们是形成光谱背景的主要因素。

（5）分子吸收干扰分子吸收干扰是指在原子化过程中生成的气体分子、氧化物及盐类分子对辐射吸收而引起的干扰。光散射是指在原子化过程中产生的固体微粒对光产生散射，使被散射的光偏离光路而不为检测器所检测，导致吸光度值偏高。

❽ 有哪几种电磁干扰，不同的电磁干扰有什么特点

电磁干扰是电子电器行业及含有电子电器元件的设备所在行业都面临的一个重要研究课题。本文由板朗科技工程师就电磁干扰的类型、因素、特性做详细分析，欢迎大家阅读斧正。

1.电磁干扰的定义

(1)电磁骚扰（EMD）

电磁骚扰是“任何可能引起装置、设备或系统性能降级或对有生命或无生命物质产生作用的电磁现象。电磁骚扰可能是电磁噪声、无用信号或传播媒介自身的变化”。

(2)电磁干扰（EMI）

电磁干扰是“电磁骚扰引起的设备、传输通道或系统性能的下降”。电磁骚扰仅仅是电磁现象，即客观存在的一种物理现象，它可能引起设备性能的降级或损害，但不一定已经形成后果。而电磁干扰是由电磁骚扰引起的后果。过去在术语上并未将物理现象与其造成的后果明确划分，统称为干扰。但是为了方便，通常人们在分析电磁干扰问题时常常是与电磁骚扰联系在一起讨论，或统称为电磁干扰。

2.电磁干扰（骚扰）源的分类

电磁干扰的分类可以有许多种分法，例如，按传播途径分，有传导干扰和辐射干扰，其中传导干扰的传输性质有电耦合、磁耦合及电磁耦合；按辐射干扰的传输性质分，有近区场感应耦合和远区场辐射耦合；按频带分，有窄带干扰和宽带干扰；按干扰频率范围分，可细分为5种；按实施干扰者的主观意向分，可分为有意干扰源和无意干扰源；按干扰源性质分，有自然干扰和人为干扰，等等。后面我们将详细说明自然干扰和人为干扰。

电磁干扰的频率范围分类

根据频率范围电磁干扰的分类

电磁干扰源分类

3.电磁干扰的三要素

所有的电磁干扰都是由3个基本要素组合而产生的，它们是:电磁干扰源；对该干扰能量敏感的设备；将电磁干扰源传输到敏感设备的媒介，即传输通道或耦合途径。相应地对抑制所有电磁干扰的方法也应由这三要素着手解决。

（1）电磁干扰源:指产生电磁干扰的任何元件、器件、设备、系统或自然现象。

（2）耦合途经（或称传输通道）:指将电磁干扰能量传输到受干扰设备的通道或媒介。

（3）敏感设备:指受到电磁干扰影响，或者说对电磁干扰发生响应的设备。

4.自然干扰（噪声）

自然电磁干扰源存在于地球和宇宙，自然电磁现象会产生电磁噪声。自然干扰主要分为宇宙干扰、大气干扰、雷电干扰和热噪声。

(1)宇宙干扰

宇宙干扰是来自太阳系、银河系及河外星系的电磁骚扰，主要包括太空背景噪声和太阳、月亮、木星等发射的无线电噪声。太阳无线电噪声则随着太阳的活动性明显变化，太阳活动高年无线电噪声显着增加。太阳的干扰频率从10MHz到几十GHz。银河系的干扰峰值出现在频段100～200MHz。宇宙干扰影响最大的频段是20～500MHz。

(2)雷电干扰

雷电干扰主要是由夏季本地雷电和冬季热带地区雷电放电所产生。地球上平均每秒钟发生100次左右的雷击放电。雷电是一连串的干扰脉冲，其电磁发射借助电离层的传输可传播到几千公里以外的地方。雷电干扰的频谱在50MHz以下都有分布，主要能量分布在100ⅸHz左右，对地球上20MHz以下的无线电通信影响较大。大气层中的其他自然现象（例如沙暴、雨雾等）也会形成较强烈的电磁噪声源。

(3)大气干扰

大气干扰是指除雷电放电外大气中的尘埃、雨点、雪花、冰雹等微粒在高速通过飞机、飞船表面时，由于相对摩擦运动而产生电荷迁移从而沉积静电，当电势升高到1MV时，就发生火花放电、电晕放电。这种放电产生的宽带射频噪声频谱分布在几赫兹到几十兆赫兹的范围内，会严重影响高频、甚高频频段的无线电通信和导航。

(4)热噪声

热噪声是指处于一定热力学状态下的导体中所出现的无规则电起伏，它是由导体中自由电子的无规则运动引起的，例如电阻热噪声、气体放电噪声、有源器件的散弹噪声。

4.人为干扰（噪声）

人为干扰分别来自有意发射干扰源和无意发射干扰源。

(1)有意发射干扰源

有意发射干扰源是专用于辐射电磁能的设备，例如广播、电视、通信、雷达、导航等发射设备，是通过向空间发射有用信号的电磁能量来工作的，它们对不需要这些信号的电子系统或设备将构成功能性干扰，而且是电磁环境的重要污染源。经过分析不难看出，这类干扰源有以下特点:

①为了保证一定的作用距离，这些设备具有高功率的发射机，向空间发射大量的电磁能量。例如中波广播输出功率可达兆瓦，短波广播输出功率可达几百千瓦，目前我国电视广播1～12频道的输出功率一般为10ⅸW，13频道以上的发射功率为30ⅸW。远程雷达的脉冲发射功率可达10MW以上。

②这些无线电发射设备，均按无线电管理的有关规定，工作在指定的频段上，以抑制各无线系统间的相互干扰，这些设备的发射功率及工作频率可人为地予以规定及限制，而且辐射能量的空间分布是由发射天线的方向性决定的。

③广播（包括调频广播）和电视发射台的数量多，发射功率大而且发射天线高，发射的电磁能量覆盖很广的区域，广播与电视发射对环境所造成的电磁污染比同功率的其他工业干扰源要大得多。因为前者发射的是有用信号不能施加电磁屏蔽，而后者产生的是无用干扰信号，可用屏蔽等技术措施予以抑制，而广播电视发射塔多建在城市附近，因此广播与电视发射是污染城市电磁环境的主要干扰源。

(2)无意发射干扰源

有许多装置都无意地发射电磁能量，例如汽车的点火系统，各种不同的用电装置和带电动机的装置，照明装置、霓红灯广告、高压电力线、工业、科学和医用设备以及接收机的本机振荡辐射等都在无意地发射电磁能量。这种发射可能是向空间的辐射，也可能是沿导线的传导发射，所发射的电磁能是随机的或是有规则的，一般占有非常宽的频带或离散频谱，所发射的功率可从微微瓦到兆瓦量级。无意发射干扰源主要有如下几种:

①用于工业、科学、医疗及生活中的高功率设备这类设备包括工业加热设备（感应加热器和介质加热器等），射频电弧焊、医疗加热设备（微波理疗机）微波外科手术设备、超声波发生器及微波炉等。这类设备的特点是功率高、数量多，一般输出功率可达千瓦甚至兆瓦，而且其数量在逐年迅速递增。他们工作时的电磁泄漏会造成很强的干扰。国际无线电干扰特别委员会（CISPR）对这类设备规定了干扰极限值。

②汽车等机动车辆汽车等机动车辆的点火系统、发电机、风扇、风挡刮水器马达等，由于向外辐射电磁能量而造成干扰。通常，点火系统是最强的宽带干扰源，当点火时产生波形前沿很陡的电弧，其频谱是一个低频基波分量再加上许多谐波，以及占有很宽一段频谱的暂态（瞬态过程），这样的噪声在10～100MHz范围内具有很大的场强。一般观测表明，小汽车比卡车的噪声约小103B，而摩托车的噪声与卡车的噪声差不多，这是因为虽然摩托车比小汽车、卡车的功率小得多，但很少采取或根本没有采取屏蔽措施的缘故。例如，小汽车的金属外壳就可以提供约153B的屏蔽作用。汽车干扰一般为垂直极化（特别是在100MHz频率以内的范围），汽车产生干扰的幅度一般为正态分布，而且干扰脉冲的峰值幅度与汽车点火系统的类型、汽车的速度、正常工作的机械负载以及汽车的老化和磨损程度等因素有关。随着经济的发展，个人占有汽车等机动车辆的数量每年以12%以上的速度增长。统计表明，当交通量增加一倍时，其干扰功率频谱强度就会增加3～63B，因此汽车等机动车辆是重要的干扰源之一。

③其他一些无意发射设备

电动机、照明设备(荧光灯、日光灯等)、电力输电线、电气化铁路、公共电源。

④静电放电干扰

静电放电也是一种有害的电磁骚扰源。当两种介电常数不同的材料发生接触，特别是相互摩擦时，两者之间会发生电荷的转移，而使各自成为带有不同电荷的物体。当电荷积累到一定程度时，就会产生高电压。此时，带电物体与其他物体接近就会产生电晕放电或火花放电，形成静电骚扰。静电骚扰最为危险的后果是可能引起火灾，导致易燃、易爆物引爆；其次，可能导致测量、控制系统失灵或发生故障，也可能导致计算机程序出错、集成电路芯片损坏。

⑤核爆炸电磁脉冲

核爆炸时会产生极强的电磁脉冲，其强度可达1000kV/垃以上，分布的范围极广。高空核爆炸的影响半径可达数千公里。核电磁脉冲对于武器、航天飞行器、舰船、地面无线电指挥系统、工业控制系统、电力电子设备等都会造成严重的干扰和破坏。

6.电磁干扰（骚扰）源的时、空、频谱特性

（1）干扰能量的空间分布

对于有意辐射干扰源，其辐射干扰的空间分布是比较容易计算的，主要取决于发射天线的方向性及传输路径损耗。

对于无意辐射源，无法从理论上严格计算，经统计测量可得到一些无意辐射源干扰场分布的有关数学模型及经验数据。

对于随机干扰，由于不能确定未来值，其干扰电平不能用确定的值来表示，需用其指定值出现的概率来表示。

（2）干扰能量的时间分布

干扰能量随时间的分布与干扰源的工作时间和干扰的出现概率有关，按照干扰的时间出现概率可分为周期性干扰、非周期性干扰和随机干扰3种类型。周期性干扰是指在确定的时间间隔上能重复出现的干扰。非周期干扰虽然不能在确定的周期重复出现，但其出现时间是确定的，而且是可以预测的；随机干扰则以不能预测的方式变化，其变化特性也是没有规律的，因此随机干扰不能用时间分布函数来分析，而应用幅度的频谱率特性来分析。

(3)干扰的频率特性

按照干扰能量的频率分布特性可以确定干扰的频谱宽度，按其干扰的频谱宽度，可分为窄带干扰与宽带干扰。一般而言，窄带干扰的带宽只有几十赫，最宽只有几百千赫。而宽带

干扰的能量分布在几十至几百兆赫，甚至更宽的范围内。在电磁兼容学科领域内，带宽是相对接收机的带宽而言，根据国家军用标准GJB72-85的定义，窄带干扰指主要能量频谱落在测量接收机通带之内，而宽带干扰指能量频谱相当宽，当测量接收机在士2个脉冲宽内调谐时，它对接收机输出响应的影响不大于3dB。

有意发射源干扰能量的频率分布，可根据发射机的工作频带及带外发射等特性得出，而对无意发射源，则用统计规律来得出经验公式和数学模型。

参考：www.pcbhf.com/

❾ 简述原子吸收分光光度法的主要干扰有哪些

主要有四大干扰：光谱干扰，背景干扰，电离干扰，物理干扰，化学干扰。干扰的消除：1、光谱干扰是由于分析用的谱线与邻近线不能完全分开而产生的。采取改换良好的空心阴极灯，减少狭缝宽度，增加灯电流，一般才能收到较好的抑制效果；

❿ 环境学中的物理干扰

http://www.hyswz.com/h3-b1.htm
里面有,但是复制不过来,你自己点击进去看吧~~~

物理干扰是指试样在转移、蒸发过程中任何物理因素变化（如粘度、表面张力或溶液的密度等的变化）而引起的干扰效应。对火焰原子化法而言，影响试样喷入火焰的速度（粘度）、雾化效率、雾滴的大小及其分布（表面张力）、溶剂和固体微粒的蒸发（溶剂的蒸气压）等。最终都影响进入火焰的待测原子数目，因而影响A的测量。显然，物理干扰与试样的基体组成有关。

消除办法：配制与被测试样组成相近的标准溶液或采用标准加入法。若试样溶液的浓度高，还可采用稀释法；加入表面活性剂或有机溶剂。

1 物理干扰及其消除方法
物理干扰是指试样左转移，蒸发和原子化过程中，由于试样任何物理性质的变化而
引起的原子吸收信号强度变化的效应。物理干扰属非选择性干扰。
1.1物理干扰产生的原因
在火焰原子吸收中,试样溶液的性质发生任何变化,都直接或间接的影响原子阶级效
率。如试样的粘度生生变化时，则影响吸喷速率进而影响雾量和雾化交率。毛细管的内
径和长度以及空气的流量同样影响吸喷速率。试样的表面张力和粘度的变化，将影响雾
滴的细度、 溶剂效率和蒸发效率，最终影响到原子化效率。?试样中存在大量的基体
元素时，它们在火焰中蒸发解离时，不仅要消耗大量的热量，而且在蒸发过程中，有可
能包裹待测元素，延缓待测元素的蒸发、影响原子化效率。
物理干扰一般都是负干扰，最终影响火焰分析体积中原子的密度。
1.2消除物理干扰的方法
为消除物理干扰,保证分析的准确度,一般采用以下方法:
a 配制与待测试液基体相一致的标准溶液,这是最常用的方法。
b 当配制与待测试液基体相一致的标准溶液有困难时，需采用标准加入法。
c 当被测元素在试液中浓度较高时，可以用稀释溶液的方法来降低或消除物理干扰。